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      泰克SourceMeter光儀器(源測量單元)

      泰克SourceMeter光儀器(源測量單元)

      簡要描述:泰克SourceMeter光儀器(源測量單元)
      通過 Keithley 儀器,可以輕松構建 LIV(光功率-電流-電壓)系統,從而經濟高效地測試激光二極管模塊。

      產品型號:

      所屬分類:美國泰克源測量單元

      更新時間:2021-02-03

      廠商性質:生產廠家

      詳情介紹

      泰克SourceMeter光儀器(源測量單元)

      通過 Keithley 儀器,可以輕松構建 LIV(光功率-電流-電壓)系統,從而經濟高效地測試激光二極管模塊。

      • 光纖對準光電二極管儀表 2502 :高速模擬輸出使得可在光纖對準工作臺執行 LIV 測試。
      • 帶可選積分球 2520/KIT1 的脈沖激光二極管測試系統 :同步測試系統,為脈沖和連續 LIV 測試提供純源化和測量功能。
      • 注:此產品無法發貨到歐盟國家。 詳細信息 。
      • TEC SourceMeter SMU、2510 和 2510-AT :確保通過控制其熱電冷卻器,為激光二極管模塊提供嚴格的溫度控制。

      泰克SourceMeter光儀器(源測量單元)特點

      • 主動溫度控制
      • 50W TEC控制器
      • 全數字P-I-D控制
      • 適用于熱控制環路的自動調諧功能(2510-AT)
      • 寬溫度設定值范圍(-50°℃至+225℃)以及高設定值分辨率(+0.001°C)和穩定性(士0.005°C)
      • 兼容于多種溫度傳感器輸入一熱敏電阻、RTD和IC傳感器
      • 交流歐姆測量功能
      • 適用于熱反饋元件的四線開路/短路引線檢測

      泰克SourceMeter光儀器(源測量單元)優勢

      • 防止溫度變化可能引起激光二極管主輸出波長發生變化,導致出現信號重疊和串擾問題。
      • 比其他低功耗解決方案提供更高的測試速度和更寬的溫度設定值范圍。
      • 提供更高的溫度穩定性,并可通過簡單的固件變化輕松升級。
      • 無需反復試驗即可確定P、|和D系數的優組合。
      • 能夠滿足大部分冷卻光學元器件和子裝配件生產測試的測試要求。
      • 適合常用于各類激光二極管模塊的溫度傳感器類型。
      • 驗證TEC器件的完整性。
      • 消除引線電阻測量值誤差,減少假故障或設備損壞的可能性。 

       



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